合金膜厚測量儀介紹: 
⊙適用于Windows®2000或選擇適用于Windows® XP的真Win32位程序帶在線幫助功能 
⊙頻譜庫中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的應(yīng)用
⊙能通過“應(yīng)用工具箱”(由一個帶所有應(yīng)用參數(shù)的軟盤和校準標準塊組成)使應(yīng)用的校準簡單化
⊙畫中畫測試件查看和數(shù)據(jù)顯示，帶快速移動焦距功能放大試件圖像；計算機生成的刻度化的瞄準十字星，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測量的距離） 
⊙圖形化的用戶界面，測試件的圖像顯示可插入于測試報告中

合金膜厚測量儀專用于多種復(fù)雜鍍層的測量．

合金膜厚測量儀優(yōu)點 
    > 采用國際上最先進的、穩(wěn)定性最好的射線源，體積小，使用壽命長，易維護。 
    > 設(shè)備結(jié)構(gòu)簡潔、操作簡單、部件更換快速、簡單，便于維護。 
    > 快速多點校正法技術(shù)保證了系統(tǒng)的長期精度。 
    > 快速、連續(xù)、非接觸測量、實時顯示高精度測量值。 
    > 操作站：提供中英文操作界面(Win2000)。采用web以太網(wǎng)平臺，使用最新的JAVA 技術(shù)。 
    > 采用雙放大技術(shù)和獨特大電離室，提升測量范圍及精度。

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